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Wir stellen vor: In-situ-Tunnelelektronenmikroskopie

FEI heating

Mit unserem neuen Lieferanten DENS­solution betreten wir das noch junge und stark wachsende Forschungsgebiet der In-situ-Tunnelelektronenmikroskopie (In-situ-TEM). Nachdem es in der Ver­­­gangenheit in der Elektronen­mi­kro­­­skopie eigentlich immer nur darum ging, eine noch höhere Auf­lö­sung zu erreichen, findet langsam ein Umdenken statt. Viele Fors­cher sind mehr und mehr daran interessiert, nicht nur Informationen über die Pro­benoberfläche zu erhalten, sondern auch über das Verhalten ihrer Probe unter dem Einfluss eines externen Stimulus. Im Idealfall sollte die Beobachtung der Probenreaktion instantan erfolgen. Mit dieser Art von Experimenten könnten viele offene Fragestellungen bei auftretenden physikalischen Phänomenen dynamisch erfasst und sofort sichtbar gemacht werden.

Bisher war es zwar möglich z. B. In-situ-Temperaturmessungen vorzunehmen, allerdings war die Architektur der Probenhalter nicht dazu geeignet, fortschrittliche Messungen durchzuführen. Die große Masse der Pro­ben­halter erlaubte keine wirklich zeitaufgelösten dynamischen Experi­ment­e aufgrund einer großen Drift und sehr langer Wartezeiten bis zur Tem­pe­ra­tur­einstellung und -stabili­sie­rung.

DENSsolution hat sich von Anfang an Gedanken darüber gemacht, wie eine wirklich praxisnahe Lösung aussehen muss.

So sollten folgende Punkte erfüllt werden:

  • Sub-Ångström-Auflösung über den gesamten Temperaturbereich (RT bis 1300 K)
  • Echtzeit-Feedbackkontrolle zur chemischen Analyse mit atoma­rer Auflösung für jede eingestellte Tem­peratur unter jeder Umge­bungs­be­dingung 
  • Sehr schnelles Erreichen der Ziel­­temperatur durch eine geringe Masse und sehr gute Wärmekapazität des Probenhalters (1000 K in Millisekunden)
  • Ultra-hohe Temperaturstabilität (± 3 mK)

 

 

EMheaterchips
EMheaterchips

Das Resultat ist die Entwicklung der EMheaterchips. Diese neuartigen, auf MEMS aufbauenden, Probenhalter für In-situ-TEM-Messungen sind maßgeschneidert und bieten eine bisher nicht da gewesene Kontrolle über das Ex­periment. In Kombination mit den ver­schiedenen In-situ-Haltern (single tilt, double tilt, 30° oder 70°) bieten sie viel­fältige Möglichkeiten zur Planung und Durchführung der Messungen. Die gesamte Produktpalette ist auf die Elektronenmikroskope von Phenom World und Jeol abgestimmt. Beide Messsysteme bedienen den normalen Workflow, so dass sich der Anwender nicht umstellen muss.

EMheaterchips werden über einen eigenen Kontroller und Laptop angesteuert.

Gerne stellen wir Ihnen unser Demo­system für erste Testmessungen in Ihrem Labor zur Verfügung.


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